热空穴
The behaviors of the Snapback stress in LDD NMOSFET are studied in ultra-short and ultra-thin LDD NMOSFET' s. The avalanche hot holes and electrons together inject into oxide during Snapback stress, much interface states and neutral electron traps are generated.
对超短超薄LDD nMOSFET中的Snapback应力特性进行了研究。Snapback应力过程中雪崩热空穴和电子同时注入栅氧化层,会产生界面态和大量中性电子陷阱。
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